卤化银感光材料是重要的光信息记录材料，具有快速记录和长久保存光信息的功能。它记录的信息是光电子与填隙银离子形成潜影后，潜影再经过显影变成可见图像。潜影的主体是中性银团簇⋯ ，其在显影过程中起催化剂的作用 j。agx微晶必须存在一个以上的潜影核方能显影。由于各种电子损耗因素的存在，光电子与填隙银离子结合生成潜影的效率很低。为了提高形成潜影的效率和避免潜影分散，人们采取了许多有效方法，如控制agx晶体中的浅电子陷阱数目l3 、空穴陷阱数目l4j、提供增感中心 等。这些方法通过改变材料的结构，影响着光电子的行为，其作用结果在光电子数密度随时间变化中反映出来。通过对agx晶粒中光电子时间行为的测量，就能够获得所加入的提高感光性能材料(如掺人材料的种类、含量、位置以及掺杂条件等)对潜影形成过程产生影响的信息。因
此，借助于光电子时间行为测量来研究潜影形成及相关的光化学反应过程是十分有效的技术手段。
对卤化银感光材料中光电子时间行为测量，使用最多的是微波光电导法。这种方法在测量精度方面，基本能满足光电子研究的需要。但光电导法的测量只反映出光电子行为的综合情况，不能区别自由光电子和束缚光电子行为，而束缚光电子行为对了解不同电子陷阱的情况及其作用是极为重要的。近几年，研究薄膜介电材料中的光电子行为又出现了一种新方法—— 微波相敏检测法 · 。这种方法是在光电导法和介电函数理论的基础上，引入相敏检测技术，在测量自由光电子的瞬态信息的同时获取弱束缚电子的瞬态信息。此法可获得比普通光电导法更为全面的光电子信息。
微波相敏法将胶片样品放入微波谐振腔中，曝光时胶片中瞬时产生的大量光电子将发生驰豫过程，引起材料的介电函数的瞬态变化。介电函数的变化又会引起谐振腔输出微波的幅度发生变化，通过检测微波幅度变化就可获得光电子数量变化的信息。 |
